一、溫度沖擊（循環(huán)）試驗(TC /TS)測試 目的：模擬環(huán)境溫度變化或開關(guān)機造成的溫度變化，考核溫度交替變化對產(chǎn)品機械/電性能的影響，暴露...
MORE>2020年2月24日，安而森試驗設(shè)備正式復工。 公司準備了充足的防疫物資，每天全廠消毒兩次，每一個員工和來訪人員都要求體溫測試與佩戴口罩，午餐也改為分時分批就餐制度。 公司在嚴格落實好防疫措施，確保員工身體健康的前提下，協(xié)調(diào)各方面資源全面復工。
三、高溫高濕試驗 目的：模擬非密封器件在高溫高濕環(huán)境下工作，檢驗塑封產(chǎn)品抗水汽侵入及腐蝕的能力。 條件： 85℃/85%RH，168hrs 失效機理：器件在高溫高濕的環(huán)境下，加速了芯片鍵合及表面的電解腐蝕，評估器件在存儲環(huán)境中對水汽的抵抗能力。 測試標準： JESD22-A101-B
二、高壓加速壽命試驗/高壓蒸煮(PCT/Autoclave) 目的：檢驗器件抵抗水汽侵入及腐蝕的能力，不包括外部腐蝕。 條件： 121℃/100%RH，205kPa（2atm），96hrs。 失效機理：濕氣通過塑封體及各界面被吸入并到達芯片表面,在鍵合區(qū)形成原電池而加速鋁的腐蝕。另外，水汽帶入的雜質(zhì)在器件表面形成漏電通道。試驗后因管腳腐蝕引起的開路或塑封體表面漏電等失效不計。
一、800V高壓平臺發(fā)展趨勢推動第三代半導體滲透提速“SiC”+“800V”組合逐步成為新能源汽車行業(yè)的布局熱點，加快推動第三代半導體滲透提速...
MORE>一、800V高壓平臺發(fā)展趨勢推動第三代半導體滲透提速“SiC”+“800V”組合逐步成為新能源汽車行業(yè)的布局熱點，加快推動第三代半導體滲透提速...
高效、可靠的智能化控制系統(tǒng) 同體積下可承受較大發(fā)熱負載（測試數(shù)量提升，測試成本下降） 冷媒伺服閥自動調(diào)節(jié)，自動匹配箱內(nèi)負載量，以實現(xiàn)省點省水目的 低濕控制，標準機型能實現(xiàn)40℃ 10%R.H能力（不增設(shè)外設(shè)輔助機構(gòu)前提下） 安全偵測點數(shù)量多，確保設(shè)備異常情況下及時提示 測試區(qū)頂部不凝結(jié)，確保試驗有效 試件通電發(fā)熱，箱內(nèi)溫濕度條件不會改變
高低溫系列試驗箱壓縮機問題，不論是設(shè)備生廠商還是設(shè)備使用者一直都是一個老生常談的話題。壓縮機是制冷系統(tǒng)中最為重要的配件主要負責降溫的作用，那你知道使用高低溫系列試驗箱的壓縮機有哪些禁忌嗎？下面是一篇關(guān)于壓縮機的注意事項可供參考
